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比表面積及微孔

微孔分析儀高精度微孔檢測

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BSD-PSM比表面孔隙度分析儀

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PSM

瀏覽量：723

比表面孔隙度分析儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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鈦白粉比表面孔徑檢測

更新時間：2024-10-25

型號：

瀏覽量：708

鈦白粉比表面孔徑檢測，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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比表面孔徑檢測儀

更新時間：2024-10-25

型號：

瀏覽量：776

比表面孔徑檢測儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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BSD-PSM比表面孔徑測量

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PSM

瀏覽量：757

比表面孔徑測量儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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BSD-PSM比表面孔徑測量儀

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PSM

瀏覽量：781

比表面孔徑測量儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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BSD-PSM多孔碳比表面孔徑測定

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PSM

瀏覽量：896

多孔碳比表面孔徑測定，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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BSD-PSM比表面孔徑測定儀

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PSM

瀏覽量：849

比表面孔徑測定儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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BSD-PSM導電炭黑比表面孔徑測試

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PSM

瀏覽量：840

導電炭黑比表面孔徑測試，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷海外，獲得多項國內技術
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